各位老师、同学：

    现代仪器分析中心新进仪器美国FEI Tecnai G2 F20透射电子显微镜（TEM）现已安装、调试完成，将于2015年3月16日开始试运行，有需要测试的老师和同学请在大型设备开放共享系统中进行预约、测试。

    为了更好地完成TEM测试，得到满意的测试结果，分析中心将于3月16日（周一）下午14：30在逸夫楼A-101室进行TEM制样及操作培训，欢迎各位老师和同学前来培训、测试。

仪器简介：

名称：FEI Tecnai G2 F20透射电子显微镜（TEM）

适用范围：透射电子显微镜（TEM）具有高空间分辨率，集形貌观察、晶体结构鉴定及化学成分分析等功能于一身，提供了从微米直到原子尺度直接观察形貌、界面及晶体缺陷的技术，是研究化学、生物、材料样品，尤其是纳米材料的强有力手段。

主要功能：（1）普通形貌观察 （2）选区电子衍射（SAD） （3）高分辨像（HRTEM） （4）EDS能谱 （5）STEM像 （6）三维重构

技术指标：（1）肖特基场发射电子枪，加速电压200KV （2）配备单倾样品杆、低背景双倾样品杆、三维重构样品杆 （3）Gatan 832 CCD相机，分辨率4K*2.7K （4）点分辨率：0.24nm （5）放大倍数：25× ~ 1000k× （6）样品最大倾角：+/-40°