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场发射扫描电镜

发布日期:  2014-03-12  点击:

所在单位

 现代仪器分析中心

存放地点

 逸夫楼A109

仪器负责人

陈立红/樊国栋/苏莹

联系电话

029-86168933/4

仪器编号

 20110401

中文名称

场发射扫描电镜   

英文名称

SEM+EDS     

规格型号

S4800

校内收费标准

 100元/时

校外收费标准

 200/

生产日期

 

购进日期

2011.04  

生产厂商

日本hitachi.

仪器现状

 

仪器分类

 

产区类别

 

单价

 

附件

 

是否对外服务

300    

检定情况

 

仪器适用范围

 用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织,并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。包括:金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察;材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定;金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定;纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析;进行材料表面微区成分的定性和定量分析。 

主要技术指标

分辨率:1.0nm (15kV) 2.0nm (1kV)
1.4nm(1KV)
入射电子减速功能
 
加速电压:0.5 ~ 30kV0.1kV/
 
放大倍率:×20 ~ ×
800,000
束流强度:1pA~2nA 

 

仪器照片 

主要功能及特色 

EDS电子能谱      

 

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